Page 48 - Optimizacija poslovnih in tehnoloških procesov

2 Pregled stanja obravnavane problematike

CPI = USL - LSL , (2.1)
6 # v
kjer so:

USL (iz angl. upper specification limit) – zgornja meja specifikacije,
LSL (iz angl. lower specification limit) – spodnja meja specifikacije,
σ – standardni odklon.

Indeks CPI je neposredno merilo sposobnosti procesa, da izpolni
zahteve strank. Če je CPI enak 1,0, pomeni, da proces ustreza zahte-
vam. Vrednost CPI, manjša od 1,0, pa nakazuje, da proces ne dosega
potrebnih standardov (Down idr. 2010).
CPK lahko izračunamo s formulo (2.2) (Durivage 2014):
USL - X X - LSL
CPK = min 3 # v , 3 # v , (2.2)

kjer so:

USL – zgornja meja specifikacije,
LSL – spodnja meja specifikacije,
σ – standardni odklon,
X – nominalna vrednost.
Za natančno oceno zmožnosti procesa z analizo CPK je ključnega
pomena najprej določiti standardni odklon procesa, ki odraža pričako-
vano variabilnost ali odstopanja od povprečne vrednosti znotraj nabo-
ra podatkov. Standardni odklon izračunamo z uporabo formule (2.3)
(Castagliola idr. 2009):

2
^
R x - x h
v = n , (2.3)
kjer so:

Σ – vsota,
x – posamezne podatkovne točke,
x – srednja vrednost podatkovnih točk,
n – število podatkovnih točk.

Standardni odklon služi kot mera za razpršenost ali variabilnost
podatkov in je temelj za nadaljnje statistične analize, vključno z izra-
čunom intervalov zaupanja in izvedbo statističnih testov.

48