Page 161 - Optimizacija poslovnih in tehnoloških procesov

Preverjanje in način testiranja hipotez 5.5

Preglednica 5.53 Opisna statistika, hipoteza 3 – Skladnost z dokumentacijo_3L in
kazalniki CMK
Opisna statistika
Povprečje SD N
Skladnost z dokumentacijo 149,5800 0,63052 50
Novor3 1,2006 0,00291 50
Čas vijačenja3 21,9094 0,05762 50
Število obratov3 5,0032 0,03178 50
Temperatura lepila3 59,9782 0,27295 50
Temperatura komponent3 22,6196 0,21216 50
Masa lepila3 10,0466 0,27007 50
Čas lepljenja3 22,1816 0,11500 50
Končna kontrola časa3 19,9158 0,24080 50
OPOMBE SD je standardna deviacija. N je velikost vzorca.

Skupaj z ugotovitvami iz preglednic lahko zaključimo, da so naši
podatki potrdili hipotezo 3, da je CPK neposredno povezana s CMK. To
kaže, da je izboljšanje kazalnikov CMK lahko koristno pri izboljšanju
CPK.

Hipoteza 4 Kritična strojna zmožnost (CMK) je neposredno
povezana s kritično procesno zmožnostjo (CPK).
Četrto hipotezo smo preverjali z modelom kazalnikov CPK kot ne-
odvisno spremenljivko in kazalniki CMK kot odvisno spremenljivko.
Uporabili smo podatke, ki so bili zbrani po drugi in tretji optimizaciji.
Rezultati analize so pokazali, da so bili kazalniki CMK v obeh primerih
pričakovani in v skladu s specifikacijami. Kljub temu pa smo opazili
razlike v posameznih kazalnikih med drugo in tretjo optimizacijo.
Z uporabo regresijske analize smo lahko preučili tudi povezanost
navora s kazalniki CPK. Na podlagi regresijske enačbe smo lahko napo-
vedali vrednosti kazalnikov CPK, ki so odvisni od navora. Ta informaci-
ja nam lahko pomaga pri izboljšanju procesa proizvodnje. Regresijska
enačba (5.8) za navor kot odvisno spremenljivko se glasi (preglednica
5.36):

Navor_3L = b0 + b1 $ Funkcije_3L
+ b2 $ Dimenzijska_ustreznost_3L
+ b3 $ Skladnost_z_dokumentacijo_3L (5.8)
+ fi.

161