Page 165 - Optimizacija poslovnih in tehnoloških procesov

Preverjanje in način testiranja hipotez 5.5

Preglednica 5.55 Korelacijska matrika, hipoteza 4 – Navor_3L, optimizacija 3
Korelacije
Navor3 Funkcije3 Dimenzijska Skladnost
ustreznost3 z dokumen-
tacijo
Pearsonova Navor3 1,000 0,034 0,083 0,081
korelacija Funkcije3 0,034 1,000 −0,051 0,760
Dimenzijska ustreznost3 0,083 −0,051 1,000 0,609
Skladnost z dokumentacijo 0,081 0,760 0,609 1,000
Sig. Navor3 . 0,407 0,284 0,288
(1-stranski) Funkcije3 0,407 . 0,362 0,000
Dimenzijska ustreznost3 0,284 0,362 . 0,000
Skladnost z dokumentacijo 0,288 0,000 0,000 .
N Navor3 50 50 50 50
Funkcije3 50 50 50 50
Dimenzijska ustreznost3 50 50 50 50
Skladnost z dokumentacijo 50 50 50 50

Preglednica 5.56 Opisna statistika, hipoteza 4 – Čas vijačenja_3L in kazalniki CPK
Opisna statistika
Povprečje SD N
Čas vijačenja3 21,9094 0,05762 50
Funkcije3 160,1160 1,00109 50
Dimenzijska ustreznost3 139,0440 0,81995 50
Skladnost z dokumentacijo 149,5800 0,63052 50
OPOMBE SD je standardna deviacija. N je velikost vzorca.

Na podlagi preučevanja povezave med Temperaturo lepila_3L in ka-
zalniki CPK (Funkcije3, Dimenzijska ustreznost3 in Skladnost z doku-
mentacijo3) lahko zapišemo regresijsko enačbo (5.11, preglednica 5.39):
Temperatura_lepila_3L = b0 + b1 $ Funkcije_3L
+ b2 $ Dimenzijska_ustreznost_3L (5.11)
+ b3 $ Skladnost_z_dokumentacijo_3L
+ fi.
V enačbi je b0 konstanta, ki označuje povprečno Temperaturo lepi-
la_3L; b1, b2 in b3 so regresijski koeficienti, ki predstavljajo povečanje
Temperature lepila_3L za eno enoto kazalnika CPK (Funkcije3, Dimen-
zijska ustreznost3 in Skladnost z dokumentacijo3); ε_i je naključna
napaka.

165