Page 111 - Optimizacija poslovnih in tehnoloških procesov

Metode analize podatkov 5.4
bolj drži specifikacij. CPL in CPU označujeta odstotek vrednosti, ki so
manjše od spodnje meje specifikacije oz. večje od zgornje meje speci-
fikacije, kar pomeni, da se manj vrednosti nahaja izven tolerančnih
meja. CPK pa označuje kazalnik kapacitete procesa v primerjavi s sre-
dino toleranc, kar pomeni, da se proces bolj drži sredine tolerančnih
meja.
Sliki 5.2 in 5.3 prikazujeta kazalnike PPM < LSL in PPM > USL, ki kaže-
jo, koliko vzorcev je manjših od spodnje meje specifikacije oz. večjih od
zgornje meje specifikacije. Te številke se zmanjšujejo po optimizacijah,
kar kaže, da se proces bolj drži tolerančnih meja in da je manj vzorcev
izven tolerančnih meja. Skupno število vzorcev, ki niso v toleranci, se
tudi zmanjšuje, kar pomeni, da je proces bolj kontroliran in zanesljivejši.
Za boljšo predstavitev meritev smo rezultate meritev prikazali
na verjetnostnem diagramu. Verjetnostni diagrami (angl. probability
plots) so grafični prikazi razmerja med opaženo kumulativno in teore-
tično porazdelitvijo. Navor je vektorska količina, ki opisuje vpliv sile na
vrtenje telesa okoli določene osi. V našem primeru smo merili navor
vijačnika na levi in desni strani montažne linije.

Slika 5.2 Strojna zmožnost vijačenje – Navor_0L; Navor_0D; Navor_00L;
Navor_00D; Navor_1L

111